SJT 9533-1993 半导体分立器件质量分等标准
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ID： |
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文件大小(MB)： |
0.05 |
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2 |
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文件格式： |
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日期： |
2009-6-11 |
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中华人民共和国电子行业标准,半导体分立器件质量分等标准s!/T 9533-93,Grading standard of quality for,semiconductor discrete devices,主题内容与适用范围,1.1 主题内容,本 标 准 规定了半导体分立器件产品质量等级的划分原则与要求,1.2 适用范围,本 标 准 适用于半导体分立器件产品质量的等级评定,本 标 准 不是一个完整的标准，必需与GB4 589.1 ,GB1 2560和有关详细规范一起使用,2 弓I用标准,GB 4589. 1 半导体器件分立器件和集成电路总规范,GB 12560 半导体器件分立器件分规范,3 质量分等和质量分等要求,3.1 质量分等,半 导 体 分立器件产品的质量等级分为合格品、一等品和优等品,3} 1.1 合格品:产品类别符合GB 4589. 1的I类，参数指标符合现行规范规定,3.1.2 一等品:产品类别符合GB 4589. 1的1类.参数指标达到国际(外)同类产品近期一般,水平,3.1.3 优等品:产品类别符合GB 4589. 1的I类E级(含其以上的A,B,C和D级)，或连续,三次(批)通过C7分组、C8分组和C9分组的I类产品，或通过质量认证的I类产品，参数指,标达到国际(外)同类产品近期先进水平,3.2 质量分等要求,3.2.1 一般要求,3.2.1.1 质量分等采用的各类质量评定的详细规范必须遵循GB 4589. 1和G工312560及其,相关空白详细规范的规定,3.2.1.2 合格品、一等品和优等品的检验和试验方法应遵照相应各类详细规范的规定,3.2.2 技术要求,3.2.2.1 合格品要通过质量评定工类详细规范的A组检验.B组检验和C组检验。额定值,中华人民共和国电子工业部1993-07-13批准1993-11-01实施,一82 一,S)/T 9533- 93,和电特性应符合该规范的规定,3.2.2.2 一等品要通过质量评定1类详细规范的A组检验.B组检验和C组检验以及适用,时的D组检验。额定值和电特性应达到先进国家标准或先进公司同类产品近十年的水平,3.2.2.3 优等品要通过质量评定，类(含任何等级)详细规范的A组检验.B组检验和C组,检验及适用时的D组检验，或连续三次(批)通过质量评定，类详细规范规定的C7分组(当无,C7分组时，则不要求),C8分组和C9分组试验(C=0)，或通过国家认证合格的质量评定1,类。额定值和电特性应达到先进国家标准或先进公司同类产品近五年的水平,附加说明:,本标准由中华人民共和国电子工业部科技与质量监督司提出,本标准由电子工业部标准化研究所归口,本标准由电子工业部标准化研究所负责起草,本标准主要起草人:金贵永、蔡仁明、王长福、于志贤……
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